X-射线衍射仪
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应用范围：适用于单晶、多晶和非晶样品物相的定性、定量分析，衍射谱的指标化和点阵参数测定，晶粒度及点阵畸变测定，残余应力测定，织构分析，结晶度测定，薄膜的厚度、密度测定，表面与界面粗糙度与层分析，高分辨衍射测定单晶外延膜结构特征，高温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。